日本電子株式會社(JEOL Ltd.) 總裁兼***席運營官Izumi Oi宣布將于2021年1月推出***款新型冷場發射低溫電子顯微鏡(cryo-EM)——CRYO ARM?300 II (JEM-3300)。此款新型冷凍電鏡基于“快速、易于操作、獲得高對比度和高分辨率圖像”的理念而開發。 產品開發背景 近年來，利用冷凍電鏡進行單顆粒分析(SPA)分辨率的顯著提高使單顆粒分析成為蛋白質結構分析的重要方法。為了應對這***市場需求，日本電子在2017年推出了CRYO ARM?300，配備了提高分辨率的冷場發射槍(Cold FEG)，及用于裝載多個樣本的低溫臺，為單顆粒分析持續提供***流的分辨率。 然而，以往冷凍電鏡單顆粒分析過程中，樣本篩選和圖像數據的采集是相互獨立的操作流程，因此需要多臺電子顯微鏡來實現。這***問題給冷凍電鏡用戶帶來巨大的運營成本。因而，用戶需要***款能夠在***臺設備上即可實現從樣本篩選到圖像數據采集的整個工作流程的冷凍電鏡。此外，為了讓各類用戶都能使用冷凍電鏡，讓新手和專業用戶都能順利操作顯微鏡，還需要提高冷凍電鏡的易用性。 此背景下，為滿足以上需求，日本電子開發出***種新型冷凍電鏡——CRYO ARM?300 II。與之前的CRYO ARM? 300相比，此款冷凍電鏡可進行高質量數據的快速采集、操作簡便，并在通量方面有大幅提升。 主要特點 1. 通過***佳電子束控制實現高速成像 為支持從樣本篩選到圖像數據采集的整個工作流程，提高圖像數據采集的吞吐量至關重要。在CRYO ARM?300 II中，樣品臺的精確移動與優異的電子束移動性能相結合，用于高速數據采集。 該系統具有出色的電子束控制性能，即使在電子束發生偏移的情況下，也能***大限度地減少引起彗差的電子束傾斜 每天拍攝的顯微照片數量 此外，獨特的“Koehler mode”照射模式允許均勻電子束照射到樣品的特定位置，從而能夠從更小的區域獲得更多的圖像信息。這些新技術使得CRYO ARM?300 II的吞吐量是CRYO ARM?300的兩倍甚至更高。 Koehler mode”照射模式沒有干涉條紋，消除了電子束對不用于成像區域的損害，并允許您從更小的區域獲得更多的圖像 2. 提高了高質量圖像采集的硬件穩定性 在執行單顆粒分析時，盡管獲取大量圖像可以提高吞吐量，但這還不夠。需要從少量的圖像中重建高分辨率的數據，這是通過高圖像質量來實現的。為此，CRYO ARM?300 II配備了***種新型冷場發射槍(cold FEG)。該FEG此前已被配置到2020年發布的高端原子分辨率分析電子顯微鏡GRAND ARM?2中。與GRAND ARM? 2類似，這種新型冷場發射槍產生高度穩定的探針電流。CRYO ARM?300 II還配備了新的柱內 Omega 能量過濾器，具有出色的穩定性。這種新的冷場發射槍和新的Omega能量濾波器使用戶能夠獲得超高的信噪比圖像。 3. 系統升***后可操作性更高 CRYO ARM?300 II包括各種系統改進。顯微鏡配備了新的JADAS (JEOL低溫電子顯微鏡自動數據采集系統)軟件(升***至第4版)，用于執行單顆粒分析。此JADAS 4軟件針對新手用戶開發，為數據采集提供了更好的可操作性。新的Omega濾波器采用了自動自我調整系統，以減少日常維護。 該冷凍電鏡的樣品臺具有良好的位置再現性。即使用戶在顯微鏡柱和樣品存儲之間來回傳輸樣品，仍然可以使用整個樣品網格(全局圖)的初始低倍圖像。在數據采集的短暫停止期間，也可以停止圖像數據采集并快速篩選樣本網格。 自動標本交換系統的特點是可存儲多達12個樣品。樣品網格可以在數周或更長的時間內保持清潔，且樣品不會受冰污染。 JADAS 4系統界面流程 無污染的樣品儲存和移除，柵格可保持清潔數周或更長時間 

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