Leitz ORTHOLUX-Ⅱ POL MK透反射偏光顯微鏡
價 格：詢價
產 地：更新時間：2021-01-18 13:06
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Leitz ORTHOLUX-Ⅱ POL MK透反射偏光顯微鏡
儀器的用途：
ORTHOLUX-Ⅱ POL MK透反射兩用偏光顯微鏡是地質、礦產、冶金等部門和相關高等院校*常用的專業實驗儀器。用于不透明物明或半透明物體，可以同時采用透射光和反射光。
儀器特點：
透反射偏光顯微鏡ORTHOLUX-Ⅱ POL MK，隨著光學技術的不斷進步，作為光學儀器的偏光顯微鏡，其應用范圍也越來越廣闊，許多行業，如化工的化學纖維，半導體工業以及藥品檢驗等等，也廣泛地使用偏光顯微鏡。ORTHOLUX-Ⅱ POL MK透反偏光顯微鏡就是非常適用的產品，可供廣大用戶作單偏光觀察，正交偏光觀察，錐光觀察以及顯微攝影，配置有石膏λ、云母λ/4試片、石英楔子等附件，是***組具有較完備功能和良好品質的新型產品。本儀器的具有可擴展性，可以接計算機和數碼相機。對圖片進行保存、編輯和打印。
技術參數：
| 名稱 | 規格 |
| 無應力平場消色差物鏡 | 透射物鏡 | 6.3X 16X 25X 63X 100X |
| 反射物鏡 | 5X 10X 20X 50X 100X |
| 目鏡 | 10X十字目鏡 |
| 試片 | 1—4λ試片 |
| 石膏1λ試片 |
| 云母1/4λ試片 |
| 測微尺 | 0.01mm |
| 濾色片 | 藍色 |
| 鏡筒 | 三目觀察 （可接數碼相機、CCD） |
系統簡介
偏光顯微鏡系統是將精銳的光學顯微鏡技術、的光電轉換技術、尖端的計算機圖像處理技術完美地結合在***起而開發研制成功的***項高科技產品。可以在計算機顯示器上很方便地觀察偏光圖像，從而對偏光圖譜進行 分析等對圖片進行輸出、打印。
系統組成
Leitz ORTHOLUX-Ⅱ POL MK圖像型透反射偏光顯微鏡：
1、Leitz ORTHOLUX-Ⅱ POL MK透反射偏光顯微鏡
2、適配鏡
3、300萬像素數碼攝像器（COMS）
滬公網安備31011502016460號
