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MultiMode V SPM 是世界銷量的掃描探針顯微鏡。它能夠提供全部的原子力顯微鏡 (AFM) 和掃描隧道 (STM) 顯微鏡成像技術，可以測量樣品的表面特性，如形貌、粘彈性、摩擦力、吸附力和磁/電場分布等等。樣品和探針之間的簡略機械設計確保了系統的的掃描速率和的準確性。 

該系統集成的全新 NanoScope V控制器確保了可靠、高速的數據采集能力，采集空間可達 5000×5000 的高象素密度。因而研究人員可以在之前的SPM技術中是無法實現的時間分辨內記錄和分析針尖——樣品相互作用。這種劃時代的控制器設計允許同時采集和顯示多達8個通道的圖形和數據；支持強大的軟件功能性和通用性；支持Easy－AFM這簡約的圖形化用戶界面軟件，尤其適合于初學者以及經常重復同***模式、同***類操作的用戶。品平移臺。

1.Multimode V產品手冊 
2.TappingMode Imaging: Application ａnd Technology 
3.Lateral ａnd Chemical Force Microscopy:Mapping Surface Friction ａnd Adhesion 
4.TappingMode AFM Imaging in Fluids for the Study of Colloidal Particle Adsorption 
5.Phase Imaging: Beyond Topography 
6.原子力顯微鏡扭轉共振成像模式（TR-Mode)介紹 
7.骨膠原纖維的大范圍高分辨AFM形貌圖分析 
8.探針懸臂彈性常數的使用建議 
9.單個細菌粘附的AFM形貌及力譜研究 
10.原子力顯微鏡探針彈性系數的熱調制測定法 
11.如何用原子力顯微鏡探測DNA與蛋白質間的相互左右 
12.用原子力顯微鏡直接表征單個免疫復合物形成機理 
13.AFM與SEM：高分辨率表征手段上的互補 
14.液態環境中的輕敲模式

多達5120×5120象素的圖像可以大大減少等待結果的時間，用戶不必再費力地***遍遍地去改變圖像觀察和數據采集的位置，或者將***些低象素數的圖像拼合在***起以獲得大范圍高分辨圖像。 

使用該控制器，用戶可以方便地通過前置面板上的BNC接口輸入和輸出絕大多數的信號。用戶可以將來自外部信號源（如光電倍增管）輸入控制器；可以將信號傳遞給鎖相放大器；也可以獲取和分析顯微鏡的數據或將其反饋給顯微鏡（如XYZ傳感器信號、振幅、相位等）。這些功能可以被任何基于Microsoft組件對象模塊（Component Object Model, COM）的外部軟件所調用。 

EASY-AFM，重要的操作簡化為了使整體的操作流程簡單易行，NanoScope V控制器支持Easy-AFM?傻瓜式界面控制軟件，提供***種易學易用的圖形化用戶界面。對于大多數樣品，Easy-AFM均可以大大縮短樣品測試所耗費的時間，這取決于改控制界面簡化了從儀器初始化過程（包括探針、激光和檢測器的調節）、探針逼近樣品、掃描參數調節到獲得TappingMode圖像的全過程。.