光時(shí)域反射儀會(huì)打入***連串的光突波進(jìn)入光纖來檢驗(yàn)。檢驗(yàn)的方式是由打入突波的同***側(cè)接收光訊號，因?yàn)榇蛉氲挠嵦栍龅讲煌凵渎实慕橘|(zhì)會(huì)散射及反射回來。反射回來的光訊號強(qiáng)度會(huì)被量測到，并且是時(shí)間的函數(shù)，因此可以將之轉(zhuǎn)算成光纖的長度。
光時(shí)域反射儀可以用來量測光纖的長度、衰減，包括光纖的熔接處及轉(zhuǎn)接處皆可量測。在光纖斷掉時(shí)也可以用來量測中斷點(diǎn)。http://www.jy1898.net/news/show627.html
OTDR動(dòng)態(tài)范圍的大小對測量精度的影響初始背向散射電平與噪聲低電平的DB差值被定義為OTDR的動(dòng)態(tài)范圍。其中，背向散射電平初始點(diǎn)是入射光信號的電平值，而噪聲低電平為背向散射信號為不可見信號。動(dòng)態(tài)范圍的大小決定OTDR可測光纖的距離。當(dāng)背向散射信號的電平低于OTDR噪聲時(shí)，它就成為不可見信號。
隨著光纖熔接技術(shù)的發(fā)展，人們可以將光纖接頭的損耗控制在0.1DB以下，為實(shí)現(xiàn)對整條光纖的所有小損耗的光纖接頭進(jìn)行有效觀測，人們需要大動(dòng)態(tài)范圍的OTDR。增大OTDR 動(dòng)態(tài)范圍主要有兩個(gè)途徑：增加初始背向散射電平和降低噪聲低電平。影響初始背向散射電平的因素是光的脈沖寬度。影響噪聲低電平的因素是掃描平均時(shí)間。 多數(shù)的型號OTDR允許用戶選擇注入被測光纖的光脈沖寬度參數(shù)。在幅度相同的情況下，較寬脈沖會(huì)產(chǎn)生較大的反射信號，即產(chǎn)生較高的背向散射電平，也就是說，光脈沖寬度越大，OTDR的動(dòng)態(tài)范圍越大。
OTDR向被測的光纖反復(fù)發(fā)送脈沖，并將每次掃描的曲線平均得到結(jié)果曲線，這樣，接收器的隨機(jī)噪聲就會(huì)隨著平均時(shí)間的加長而得到抑制。在OTDR的顯示曲線上體現(xiàn)為噪聲電平隨平均時(shí)間的增長而下降，于是，動(dòng)態(tài)范圍會(huì)隨平均時(shí)間的增大而加大。在*初的平均時(shí)間內(nèi)，動(dòng)態(tài)范圍性能的改善顯著，在接下來的平均時(shí)間內(nèi)，動(dòng)態(tài)范圍性能的改善顯著，在接下來的平均時(shí)間內(nèi)，動(dòng)態(tài)范圍性能的改善會(huì)逐漸變緩，也就是說，平均時(shí)間越長，OT DR的動(dòng)態(tài)范圍就越大。
盲區(qū)對OTDR測量精度的影響 我們將諸如活動(dòng)連接器、機(jī)械接頭等特征點(diǎn)產(chǎn)生反射引起的OTDR接收端飽和而帶來的***系列“盲點(diǎn)”稱為盲區(qū)。光纖中的盲區(qū)分為事件盲區(qū)和衰減盲區(qū)兩種：由于介入活動(dòng)連接器而引起反射峰，從反射峰的起始點(diǎn)到接收器飽和峰值之間的長度距離，被稱為事件盲區(qū)；光纖中由于介入活動(dòng)連接器引起反射峰，從反射峰的起始點(diǎn)到可識別其他事件點(diǎn)之間的距離，被稱為衰減盲區(qū)。對于OTDR來說，盲區(qū)越小越好。 盲區(qū)會(huì)隨著脈沖寬的寬度的增加而增大，增加脈沖寬度雖然增加了測量長度，但也增大了測量盲區(qū)，所以，我們在測試光纖時(shí)，對OTDR附件的光纖和相鄰事件點(diǎn)的測量要使用窄脈沖，而對光纖遠(yuǎn)端進(jìn)行測量時(shí)要使用寬脈沖。
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